cicCartuja Centro de Investigaciones Científicas de la cartuja
Presentación-Demo del Microscopio 3D Color Metrológico
Este sistema metrológico permite obtener imagenes en colores reales de superficies sub-microscópicas altamente irregulares. Constituiye una valiosa y versátil alternativa a los sistemas AFM, SEM y CMM, con una buena relación calidad-precio.
Características:
- Óptica simplificada, gracias al exclusivo sistema patentado "Z-Dot Focus Map Technology"
- Amplio rango dinámico, que permite medir muestras con reflectividad muy alta o muy baja
- Disponible en dos versiones, con autostage (Zeta-200) y sin él (Zeta-20) bajos costes de mantenimiento
Lugar de la presentación: Sala de Juntas del ICMS
Fecha y hora: Jueves, 14 de julio de 2011 - 11:00 h.
Duración: 60 minutos
Persona que imparte el seminario: Vamsi Velidandla (Zeta Instruments)
Contacto e información adicional: davidp@irida.es / info@irida.es
El investigador participó en esta actividad con una charla sobre nanomateriales ópticos y su integración en dispositivos lumínicos
La singularidad de sus equipos, en concreto del espectrómetro de RMN de alto campo, ha permitido su inclusión en la Red
Varias de sus patentes mejoran la eficiencia de luminarias y están siendo explotadas por una gran multinacional
Por su capacidad para aunar la ciencia básica de gran calidad e impacto con la transferencia tecnológica de alto nivel.
Será responsable de un nuevo grupo que desarrollará catalizadores diferentes a los empleados actualmente en la industria
Participarán investigadores de Cabimer o la Estación Biológica de Doñana, entre otros centros del CSIC.
Calvo revisa el campo de las perovskitas ABX3 en el especial del Journal of Materials Chemistry A de la Royal Society of Chemistry
