cicCartuja Centro de Investigaciones Científicas de la cartuja
Presentación-Demo del Microscopio 3D Color Metrológico
Este sistema metrológico permite obtener imagenes en colores reales de superficies sub-microscópicas altamente irregulares. Constituiye una valiosa y versátil alternativa a los sistemas AFM, SEM y CMM, con una buena relación calidad-precio.
Características:
- Óptica simplificada, gracias al exclusivo sistema patentado "Z-Dot Focus Map Technology"
- Amplio rango dinámico, que permite medir muestras con reflectividad muy alta o muy baja
- Disponible en dos versiones, con autostage (Zeta-200) y sin él (Zeta-20) bajos costes de mantenimiento
Lugar de la presentación: Sala de Juntas del ICMS
Fecha y hora: Jueves, 14 de julio de 2011 - 11:00 h.
Duración: 60 minutos
Persona que imparte el seminario: Vamsi Velidandla (Zeta Instruments)
Contacto e información adicional: davidp@irida.es / info@irida.es
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