cicCartuja Centro de Investigaciones Científicas de la cartuja
Presentación-Demo del Microscopio 3D Color Metrológico
Este sistema metrológico permite obtener imagenes en colores reales de superficies sub-microscópicas altamente irregulares. Constituiye una valiosa y versátil alternativa a los sistemas AFM, SEM y CMM, con una buena relación calidad-precio.
Características:
- Óptica simplificada, gracias al exclusivo sistema patentado "Z-Dot Focus Map Technology"
- Amplio rango dinámico, que permite medir muestras con reflectividad muy alta o muy baja
- Disponible en dos versiones, con autostage (Zeta-200) y sin él (Zeta-20) bajos costes de mantenimiento
Lugar de la presentación: Sala de Juntas del ICMS
Fecha y hora: Jueves, 14 de julio de 2011 - 11:00 h.
Duración: 60 minutos
Persona que imparte el seminario: Vamsi Velidandla (Zeta Instruments)
Contacto e información adicional: davidp@irida.es / info@irida.es
Coordinado por el Grupo de Nanotecnología en Superficies y Plasma, del ICMS.
El ganador es José Luís Santos del Instituto de Ciencia de los Materiales (ICMS).
Nuestras investigadoras de los tres institutos, promueven y divulgan ciencia.
Mantuvo un encuentro con nuestros jóvenes postdocs y visitó las instalaciones.
El investigador del IIQ, ha obtenido este reconocimiento de la prestigiosa revista "Chemistry A European Journal"
La Sociedad Española de Biofísica ha seleccionado como artículo de Julio el trabajo de Gonzalo Pérez Mejías, del IIQ.
El 9 de octubre se celebra el NanoDay, donde el Instituto de Ciencia de los Materiales de Sevilla participa.
