cicCartuja Centro de Investigaciones Científicas de la cartuja
Presentación-Demo del Microscopio 3D Color Metrológico
Este sistema metrológico permite obtener imagenes en colores reales de superficies sub-microscópicas altamente irregulares. Constituiye una valiosa y versátil alternativa a los sistemas AFM, SEM y CMM, con una buena relación calidad-precio.
Características:
- Óptica simplificada, gracias al exclusivo sistema patentado "Z-Dot Focus Map Technology"
- Amplio rango dinámico, que permite medir muestras con reflectividad muy alta o muy baja
- Disponible en dos versiones, con autostage (Zeta-200) y sin él (Zeta-20) bajos costes de mantenimiento
Lugar de la presentación: Sala de Juntas del ICMS
Fecha y hora: Jueves, 14 de julio de 2011 - 11:00 h.
Duración: 60 minutos
Persona que imparte el seminario: Vamsi Velidandla (Zeta Instruments)
Contacto e información adicional: davidp@irida.es / info@irida.es
Los estudiantes han pasado la mañana en los laboratorios acompañados por científicos del centro
El próximo 27 de junio se celebrará en el cicCartuja un acto con motivo de esta efeméride
Numerosos investigadores del Instituto de Ciencia de Materiales entre los miembros de los distintos comités
La formación, de carácter intensivo, tendrá lugar del 20 al 24 de junio
La joven investigadora recibe la distinción por sus estudios sobre la caracterización de materiales catalíticos nanoestructurados
Su proyecto consigue el Premio a la Excelencia a la Investigación en Innovación
El Catedrático del Instituto de Investigaciones Químicas ofrece su visión sobre la situación de la ciencia en España
