Presentación-Demo del Microscopio 3D Color Metrológico
Este sistema metrológico permite obtener imagenes en colores reales de superficies sub-microscópicas altamente irregulares. Constituiye una valiosa y versátil alternativa a los sistemas AFM, SEM y CMM, con una buena relación calidad-precio.
Características:
- Óptica simplificada, gracias al exclusivo sistema patentado "Z-Dot Focus Map Technology"
- Amplio rango dinámico, que permite medir muestras con reflectividad muy alta o muy baja
- Disponible en dos versiones, con autostage (Zeta-200) y sin él (Zeta-20) bajos costes de mantenimiento
Lugar de la presentación: Sala de Juntas del ICMS
Fecha y hora: Jueves, 14 de julio de 2011 - 11:00 h.
Duración: 60 minutos
Persona que imparte el seminario: Vamsi Velidandla (Zeta Instruments)
Contacto e información adicional: davidp@irida.es / info@irida.es
Investigadores del ICMS desarrollan un material a partir de la piel del tomate para recubrir el interior de latas de conserva
Sevilla, 10 de noviembre de 2014. Entre las diversas actividades de carácter divulgativo enmarcadas dentro de la Semana de la Ciencia y la Tecnología, el Centro de Investigaciones Científicas Isla de la Cartuja (cicCartuja) abre...
Del 12 al 14 de noviembre se celebran diversas actividades de carácter divulgativo en torno a tres ejes principales
Su labor consistirá en el análisis e identificación de pigmentos, aglutinantes, barnices, soportes y sustratos.
El próximo miércoles, 8 de octubre, se celebra en cicCartuja una reunión informativa.
El CSIC actualiza la relación de los Coordinadores de sus Áreas Científico-Técnicas
El joven investigador recibe la Placa de Honor AEC-2014 por su destacada labor en el campo de la nanotecnología.