cicCartuja Centro de Investigaciones Científicas de la cartuja
Presentación-Demo del Microscopio 3D Color Metrológico
Este sistema metrológico permite obtener imagenes en colores reales de superficies sub-microscópicas altamente irregulares. Constituiye una valiosa y versátil alternativa a los sistemas AFM, SEM y CMM, con una buena relación calidad-precio.
Características:
- Óptica simplificada, gracias al exclusivo sistema patentado "Z-Dot Focus Map Technology"
- Amplio rango dinámico, que permite medir muestras con reflectividad muy alta o muy baja
- Disponible en dos versiones, con autostage (Zeta-200) y sin él (Zeta-20) bajos costes de mantenimiento
Lugar de la presentación: Sala de Juntas del ICMS
Fecha y hora: Jueves, 14 de julio de 2011 - 11:00 h.
Duración: 60 minutos
Persona que imparte el seminario: Vamsi Velidandla (Zeta Instruments)
Contacto e información adicional: davidp@irida.es / info@irida.es
Estudiantes de toda Europa explorarán cómo la innovación comparte procesos comunes en el arte y en la ciencia.
Dos investigadores del cicCartuja galardonados: Isabel Cruz-Gallardo, IBVF, y Juan C. Muñoz-García, IIQ.
Por primera vez se desarrolla un método sencillo y de bajo coste que une el compuesto metálico con esta especia
La Sociedad Española de Catálisis reconoce como mejor del 2014 a su trabajo doctoral realizado en el ICMS
El cicCartuja colabora en su organización para estrechar lazos entre el sector privado y los organismos públicos de investigación
The Academy acknowledges his studies of functional nanomaterials with applications in photonics, electronics and sensors
